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Equipamente do TEMA - Centro de Tecnologia Mecânica e Automação da UA
Técnica de deteção de elementos utilizada em Marte ao dispor da indústria
Equipamento modular de análise
O TEMA - Centro de Tecnologia Mecânica e Automação da Universidade de Aveiro dispõe de equipamento de caracterização química de superfícies por espectroscopia de fotoeletrões excitados por raios X, capaz de identificar a presença dos mais ínfimos constituintes ou contaminantes presentes na superfície de materiais, servindo de apoio à caracterização de superfícies, sistemas tribológicos ou despiste de materiais incorporados por difusão ou adesão de substâncias poluentes.

O TEMA - Centro de Tecnologia Mecânica e Automação disponibiliza a toda a comunidade, científica ou empresarial, o seu sistema de caracterização química de superfícies por espectroscopia de fotoeletrões excitados por raios X (XPS - X-ray Photoelectron Spectroscopy), complementado por sistemas de espectroscopia de fotoeletrões excitados por raios ultravioleta (UPS - Ultraviolet Photoelectron Spectroscopy) e espectroscopia de eletrões Auger (AES - Auger Electron Spectroscopy). Estas técnicas permitem analisar superfícies de diferentes materiais de modo a identificar a sua composição elementar e a respetiva interação química entre átomos presentes sob a superfície. A profundidade de analise é de cerca de 1 a 10 nm, permitindo assim uma identificação de elevada precisão.

O equipamento de XPS pode ser utilizado para analisar uma enorme variedade de compostos. Embora a amostra ideal para análise por XPS deva ser constituída por material condutor elétrico, muitos materiais isolantes e semicondutores também são passíveis de medição. Dado que o equipamento também dispõe de um canhão de eletrões para efetuar análises AES, e que serve, simultaneamente, para compensação de carga, é igualmente de extrema utilidade para a caracterização de semicondutores.

Este laboratório analisou, recentemente, diversos materiais 2D, tais como o grafeno ou o dissulfeto de molibdénio (MoS2), mas também filmes finos, revestimentos, catalisadores, semicondutores, híbridos orgânicos-inorgânicos, polímeros, biomateriais e até implantes dentários, entre outros.

Na análise dos provetes durante um determinado tratamento também é possível, por exemplo, monitorizar a evolução de uma amostra em função da temperatura sob condições de ultra-alto vácuo, ou efetuar a análise do perfil em profundidade, para realizar o estudo da subcamada de materiais removendo a camada exterior da amostra por erosão de iões.

Para mais informações acerca do novo serviço técnico de XPS, por favor contacte tema.services@ua.pt

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